108 年 108年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・材料分析 申論 2由於材料及應用的發展趨勢均朝向微小化，微結構的觀察在製程開發上顯得相當重要，目前穿透式電子顯微鏡的高解析影像（HRTEM）及掃瞄穿透式電子顯微鏡的高角度環形暗場像（STEM/HAADF）均能得到原子級的解析度，㈠請說明解析度的定義？（5 分）㈡請說明以上兩種設備之解析度主要決定因素分別為何？（10 分）㈢請說明以上兩種方式形成原子級解析度影像的機制。（10 分） 看答案與解析