申論 3抽驗電子晶片並建構一不良數管制圖（n p chart），製程工程師以每100個為單位批量進行抽檢。現從生產線上抽取出10 個單位批量，得檢驗數據如下表所示。（每小題5 分，共20 分）No.12345678910樣本數100100100100100100100100100100不良品數121068107712119根據樣本資料，試計算出缺點數管制圖之相關數字：㈠平均不良數p。㈡管制上限（Upper control limit, UCL）。㈢中心線（Centerline, CL）。㈣管制下限（Lower control limit, LCL）。