高普考題庫
106 年 106年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・工程統計學與品質管制
申論 5探討某半導體的三種氣體配方對晶圓片的表面平整度的影響。令μ 表示配方i 晶圓片i的表面平整度之平均數每種氣體配方抽6 個資料,利用表1 之資料回答問題:(每小題10 分,共20 分)㈠完成變異數分析表(填入(a)–(e)值)。㈡建立統計檢定(i.e.,也就是虛無H 與對立假設H),並做出結論。表1:一因子之反應值Yij氣體配方表 面 平 整 度配方1. 2.7 4.6 2.6 3.0 3.2 3.8配方2. 4.9 4.6 5.0 4.2 3.6 4.2配方3. 4.6 3.4 2.9 3.5 4.1 5.1表2:1 因子變異數分析(ANOVA)表變異來源 SS df MS FTreatment 3.648 (a) (c) (e)Error 7.630 (b) (d)Total 11.278 17(請接第三頁)106年公務人員高等考試三級考試試題 代號:28150第三頁類科:工業工程科目:工程統計學與品質管制(請接第四頁)106年公務人員高等考試三級考試試題 代號:28150第四頁類科:工業工程科目:工程統計學與品質管制