申論 3晶圓廠商欲建構一個缺點數管制圖（C chart）以管制晶圓上的缺點數，因此從生產線上抽取出10 片晶圓進行檢驗，得缺點數資料如下表所示。組別（K）12345678910缺點數（C）121068107712119根據樣本資料，試回答以下問題：㈠請計算平均缺點數C 為何？（5 分）㈡請計算管制上限（Upper control limit, UCL）與管制下限（Lower controllimit, LCL）分別為多少？（10 分）㈢除了管制界限以外，還有一種界限稱為規格界限。以上限為例，請問UCL 跟規格上限（Upper specification limit, USL）獲得方式的差異為何？（10 分）