110 年 110年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・材料分析 申論 3二次離子質譜儀（SIMS）與拉賽福背向散射分析儀（RBS）是兩個相似的成分分析技術，同樣以離子為入射源且以離子為接收訊號源，試申論在碰撞機制、結果呈現、提供分析資訊有何差異性。（25 分） 看答案與解析