108 年 108年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・材料科學導論 申論 4㈠當B 加入Si 中進行摻雜反應後,在原主體材料中是否會產生新的電子或電洞之點缺陷,請說明其理由。(5 分)㈡當ZnO 加入AlO 中進行摻雜反應後,在原主體材料中是否會產生新的電子或電洞之點缺陷,請說明其理由。(5 分)㈢請寫出一般缺陷數量與溫度的關係式。(4 分)㈣請提出三種減少缺陷的方法。(6 分) 看答案與解析