高普考題庫
104 年 104年公務人員高等考試三級考試暨普通考試

儀器分析

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本卷皆為申論題，點「看答案與解析」查看擬答。

申論 1請解釋下列專有名詞：（每小題5 分，共15 分）㈠雷射（Laser）㈡ ICP-MS 之採樣錐（skimmer cone）㈢法拉第杯偵測器（Faraday cup detector）
申論 2請說明固相萃取方法（solid-phase extraction, SPE）與其可能發生之干擾。（15 分）
申論 3請詳細說明四極柱質譜儀之原理與儀器設備。（20 分）
申論 4㈠樣品溶液以紫外－可見光光譜儀測定時，容易受那些參數之影響而改變吸收值？（10 分）㈡如果樣品溶液濃度過高時，會有所謂畢氏定理的實際限制（real limitations toBeer’s law），請詳加解釋之。（10 分）
申論 5何謂傅立葉轉換紅外線光譜儀（FT-IR）？（20 分）
申論 6請解釋層析法中之渦漩擴散（the Eddy diffusion）和縱向擴散（Longitudinaldiffusion）。（10 分）